TS9001 高分辨率 TDR 封装互连故障定位
通过非破坏电性测量缩小封装互连开路或短路的搜索范围,为后续物理分析提供定位线索。
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查看联系信息 ↓应用范围: 倒装 BGA/WLP/中介层/2.5D/3D IC · 可观测 SoC/Chiplet 接口
通过非破坏电性测量缩小封装互连开路或短路的搜索范围,为后续物理分析提供定位线索。
比较不同测试条件下可观测的芯片电性响应,追踪温度相关错误。
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