你的方案地圖
TSV 露銅高度與背面共面性
先確認 BLNKK 對問題的理解,再掌握優先路線、候選方案與仍缺的條件。
你的補充只在此瀏覽器中處理此頁顯示公開整理的問題資料你輸入的問題不會出現在網址或伺服器紀錄中
你的方案地圖
先確認問題理解,再決定要深入哪些方案。
3優先路線8候選方案10已整理來源
BLNKK 目前理解
請確認內容- 結構/接合面
- 薄化後 TSV 露銅與背面接合表面
- 觀察階段
- 背面 reveal 至金屬/接合前
- 待定位現象
- 露銅高度或面內共面性不均
- 工程決策
- 用露銅高度圖與分段量測決定薄化、蝕刻及表面整平的窗口
- 仍需樣品證據
- 量測是否分開局部露銅高度與全片形貌?
優先評估路線
各路線用途不同,可搭配使用01
露銅相對高度與共面性分開比較局部露銅與全片形貌
優先02
薄化至蝕刻分段窗口隔離哪一段新增高度偏差
優先03
接合前表面整平需求比較露銅與下一段表面/金屬需求
優先目前候選方案
尚需確認樣品適用性TSOM 露銅高度研究方法評估NIST· 可協助回答:研究示範支持相對高度/尺寸比較,供工程團隊評估量測可行性。
→Rapier XE reveal 均勻性與 endpoint 路線KLA / SPTS· 可協助回答:比較公開 blanket silicon etch 能力與分段 trace;先問樣品及堆疊相容性。
→分段窗口與接合前整平需求審查BLNKK 工程審查需求(服務方待確認)· 可協助回答:同時需要分段定位與下一段目標,才形成可比較的整平需求。
→下一步:確認工程條件用 4 個關鍵條件調整評估順序,再選擇要比較的方案。
進入工程條件 →