TDM 溫度下的球高與封裝形貌
INSIDIX · 工程量測與特性分析
- 方案用途
- 室溫球高與共面性,未必代表回焊溫度下的封裝幾何。
- 技術方式
- TDM 以相位移投影莫爾量測可見表面的三維形貌,搭配熱環境追蹤變化。
- 適用範圍
- 供溫度下的翹曲與表面形貌比較;球距、反光表面、支撐及量測範圍須依機型確認。
- 限制與待確認事項
以下為 BLNKK 根據公開資料整理的評估建議,並非原廠保證或必備資料清單。
適用邊界形貌不等於焊料濕潤或電性接觸;各機型能力不同,細間距球高須以實樣查驗。
評估準備BLNKK 建議準備球距與球高、封裝尺寸、支撐方式、溫度曲線及判讀基準,規劃室溫與熱態對照。
向供應商確認確認適合的機型、光學配置與反光表面處理,以及樣品實際溫度、量測不確定度和支撐影響。
- 公開依據
- 原廠頁面說明熱形貌量測,並列出 BGA 焊球/載板共面性主題。
聯絡供應商
查看公司聯絡資訊,透過官方管道詢問此方案。
相關工程問題
以下連結來自已建立的方案關係,可接續查看工程條件與評估準備。
資料由 BLNKK 依公開來源整理。公司資料不代表已有對應方案;方案適用性仍需依實際樣品與工程條件確認。
