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Centurion 封裝植球回焊

ITW EAE · 封裝製程與工程驗證

方案用途
焊球高度與共面性異常,需要對照植球回焊的實際溫度歷程及支撐條件。
技術方式
Centurion 以強制對流加熱與閉迴路製程控制進行回焊,並提供設定值和實際製程值的記錄功能。
適用範圍
原廠半導體頁具名列出植球回焊用途;載具、焊球與焊墊條件及爐內輸送須配合配置確認。
限制與待確認事項

以下為 BLNKK 根據公開資料整理的評估建議,並非原廠保證或必備資料清單。

適用邊界

製程設定與記錄不等於每個焊球的溫度;球量、焊墊、支撐與翹曲也會影響共面性,不能僅由爐型保證。

評估準備

BLNKK 建議準備回焊前逐球高度、載具與支撐圖、焊料條件及實測溫度曲線,保留回焊後同位置比較。

向供應商確認

請確認加熱與冷卻配置、氣氛及輸送/支撐方式、追溯資料,以及適用產品的溫度曲線驗證。

公開依據
整機與半導體頁說明回焊控制及植球用途;Centurion+ 升級與多種配置另有區分。

補充參考資料

聯絡供應商

查看公司聯絡資訊,透過官方管道詢問此方案。

相關工程問題

以下連結來自已建立的方案關係,可接續查看工程條件與評估準備。

資料由 BLNKK 依公開來源整理。公司資料不代表已有對應方案;方案適用性仍需依實際樣品與工程條件確認。