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Faraday|智原科技股份有限公司

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研究候選・適用條件待確認

公司尚未認領;資料由公開研究整理,不代表供應商背書或效果驗證。

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目錄中的方案 · 3

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模擬、模型與壽命預測

Chiplet 電源完整性分析服務

候選工程用途:【Chiplet 瞬態電源 droop】比較供電阻抗、去耦與切換電流模型。

研究候選・適用條件待確認

原廠公開頁面;樣品適用性尚未確認。

研究查核日期: 2026-10-15

候選用途與工程問題

Chiplet 瞬態電源 droop

比較供電阻抗、去耦與切換電流模型。

需實際電流波形與量測去嵌;靜態 IR drop 分析不能替代瞬態 droop。

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模擬、模型與壽命預測

Chiplet/中介層訊號完整性分析服務

候選工程用途:【Interposer 佈線串擾與隔離】比較中介層互連的串擾與隔離。 【Chiplet die-to-die 互連在溫度變化後出現 lane 錯誤】研究互連通道模型與實際 lane 裕量的關係。

研究候選・適用條件待確認

原廠公開頁面;樣品適用性尚未確認。

研究查核日期: 2026-10-15

候選用途與工程問題

Interposer 佈線串擾與隔離

比較中介層互連的串擾與隔離。

需幾何、材料、埠定義與 NEXT/FEXT;一般 SI 宣稱不代表特定中介層已驗證。

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Chiplet die-to-die 互連在溫度變化後出現 lane 錯誤

研究互連通道模型與實際 lane 裕量的關係。

被動通道模擬須與 PHY 設定、溫度及實際錯誤紀錄配對。

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模擬、模型與壽命預測

先進封裝熱設計最佳化服務

候選工程用途:【HBM 堆疊熱耦合與分層溫度】比較各層功率、溫度可見性與熱模型。

研究候選・適用條件待確認

原廠公開頁面;樣品適用性尚未確認。

研究查核日期: 2026-10-15

候選用途與工程問題

HBM 堆疊熱耦合與分層溫度

比較各層功率、溫度可見性與熱模型。

需可辨識的分層熱源與校正;表面熱影像不能直接當成埋藏層溫度。

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工程問題關聯由 BLNKK 依公開資料整理;不代表已確認樣品適用性或處理成效。

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