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Anji Microelectronics|安集科技

查看供應商公開資訊,以及目前已收錄的技術方案。

研究候選・適用條件待確認

公司尚未認領;資料由公開研究整理,不代表供應商背書或效果驗證。

官方方案影片

等待官方提交

目錄中的方案 · 2

補充這家公司的方案 →
材料參數與介面設計

混合鍵合 CMP 研磨液

候選工程用途:【混合鍵合前表面可接合性放行】研究清潔、活化、粗糙度及潤濕性。

研究候選・適用條件待確認

原廠公開頁面;樣品適用性尚未確認。

研究查核日期: 2026-10-15

候選用途與工程問題

混合鍵合前表面可接合性放行

研究清潔、活化、粗糙度及潤濕性。

接觸角只是表面指標之一,不能單獨作混合鍵合放行依據。

查看工程問題 →
材料參數與介面設計

TSV CMP 研磨液

候選工程用途:【TSV 露銅高度與背面共面性】比較露銅後的高度分布與表面形貌。

研究候選・適用條件待確認

原廠公開頁面;樣品適用性尚未確認。

研究查核日期: 2026-10-15

候選用途與工程問題

TSV 露銅高度與背面共面性

比較露銅後的高度分布與表面形貌。

需確認背面製程與量測範圍;一般 TSV CMP 不必然包含背面露銅步驟。

查看工程問題 →

工程問題關聯由 BLNKK 依公開資料整理;不代表已確認樣品適用性或處理成效。

網路研討會

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公開來源

聯絡資訊

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資料由 BLNKK 依公開來源整理。公司資料不代表已有對應方案;方案適用性仍需依實際樣品與工程條件確認。