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研究候選・適用條件待確認

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模擬、模型與壽命預測

IC 封裝高速介面/訊號完整性工程候選

候選工程用途:【Interposer 佈線串擾與隔離】比較中介層互連的串擾與隔離。 【Chiplet die-to-die 互連在溫度變化後出現 lane 錯誤】研究互連通道模型與實際 lane 裕量的關係。

研究候選・適用條件待確認

原廠公開頁面;樣品適用性尚未確認。

研究查核日期: 2026-10-16

候選用途與工程問題

Interposer 佈線串擾與隔離

保留互連分析研究方向;特定 interposer 串擾與 D2D 溫度裕量仍待工程核實。 尚未核准問題配對;不得將研究方向視作已驗證解法。

保留互連分析研究方向;特定 interposer 串擾與 D2D 溫度裕量仍待工程核實。 尚未核准問題配對;不得將研究方向視作已驗證解法。

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Chiplet die-to-die 互連在溫度變化後出現 lane 錯誤

保留互連分析研究方向;特定 interposer 串擾與 D2D 溫度裕量仍待工程核實。 尚未核准問題配對;不得將研究方向視作已驗證解法。

保留互連分析研究方向;特定 interposer 串擾與 D2D 溫度裕量仍待工程核實。 尚未核准問題配對;不得將研究方向視作已驗證解法。

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模擬、模型與壽命預測

IC 封裝電源完整性工程候選

候選工程用途:【Chiplet 瞬態電源 droop】比較供電阻抗、去耦與切換電流模型。

研究候選・適用條件待確認

原廠公開頁面;樣品適用性尚未確認。

研究查核日期: 2026-10-16

候選用途與工程問題

Chiplet 瞬態電源 droop

一般 PI 服務不證明瞬態 droop 模型、去嵌或改善結果。 尚未核准問題配對;不得將研究方向視作已驗證解法。

一般 PI 服務不證明瞬態 droop 模型、去嵌或改善結果。 尚未核准問題配對;不得將研究方向視作已驗證解法。

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模擬、模型與壽命預測

IC 封裝熱最佳化工程候選(HBM 層溫待核)

候選工程用途:【HBM 堆疊熱耦合與分層溫度】比較各層功率、溫度可見性與熱模型。

研究候選・適用條件待確認

原廠公開頁面;樣品適用性尚未確認。

研究查核日期: 2026-10-16

候選用途與工程問題

HBM 堆疊熱耦合與分層溫度

撤回 HBM 分層熱分析已受證實的暗示;該問題關聯僅留待審假說。 尚未核准問題配對;不得將研究方向視作已驗證解法。

撤回 HBM 分層熱分析已受證實的暗示;該問題關聯僅留待審假說。 尚未核准問題配對;不得將研究方向視作已驗證解法。

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