SENresearch 4.0 代表性薄膜光學比較
比較 TSV liner 製程的代表性薄膜,建立可追溯的厚度與光學性質資料。
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應用範圍: Liner 製程試片比較
比較 TSV liner 製程的代表性薄膜,建立可追溯的厚度與光學性質資料。
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薄膜量測或電漿設備詢問,請在表單選 Sales 並註明產品。New YF 與 SVT Associates 為原廠名錄列出的銷售代理;北京為原廠銷售辦公室。 官方來源 ↗
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