UltraFLEXplus SoC 電性測試平台
在指定測試條件下重現封裝元件的電性失敗,比較測試涵蓋率與失效可觀察性。
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在指定測試條件下重現封裝元件的電性失敗,比較測試涵蓋率與失效可觀察性。
比較功率循環前後的元件/模組電性參數,評估變化趨勢。
以下候選方案已收錄於工程問題流程,可接續查看條件、來源與比較內容。
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半導體測試詢問請在表單選 Product Inquiry,再選 Compute/Advanced Digital、Memory、Power 或 System Level Test 等適用類別。所列電話為一般轉介。 官方來源 ↗
美國 · 總部
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新加坡 · 原廠據點
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