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Teradyne

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公開能力摘要

  • 半導體自動化測試與系統級測試
可靠度驗證與失效分析

應用範圍: SoC/高速介面 · 功率元件/模組

目錄中的方案 · 2

工程問題中的候選方案

以下候選方案已收錄於工程問題流程,可接續查看條件、來源與比較內容。

公開來源

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半導體測試詢問請在表單選 Product Inquiry,再選 Compute/Advanced Digital、Memory、Power 或 System Level Test 等適用類別。所列電話為一般轉介。 官方來源 ↗

新加坡 · 原廠據點

Teradyne (Asia) Pte Ltd — Singapore Office / General Routing

官方來源 ↗查閱日期

窗口資料依原廠公開資訊整理;特定產品的負責窗口與服務範圍,請向供應商確認。

資料由 BLNKK 依公開來源整理。公司資料不代表已有對應方案;方案適用性仍需依實際樣品與工程條件確認。