WaferStorm 封裝濕式清洗平台
助焊劑、光阻或通孔殘留可能影響後續製程,需比較清洗方式及其與封裝材料的相容性。
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助焊劑、光阻或通孔殘留可能影響後續製程,需比較清洗方式及其與封裝材料的相容性。
凸塊製程需要在電鍍前核對光阻開口、對位與側壁,才能比較後續成形差異。
以下候選方案已收錄於工程問題流程,可接續查看條件、來源與比較內容。
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