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Micross Components

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公开能力摘要

  • 高可靠性微电子封装、测试与资格验证
可靠性验证和失效分析测量、检测和失效定位

应用范围: 晶圆凸点/重布线 · 范围经确认的晶圆试样 · 兼容性经确认的成品 BGA

目录中的方案 · 3

工程问题中的候选方案

以下候选方案已收录于工程问题流程,可继续查看条件、来源和比较内容。

公开来源

联系信息

通过以下官方渠道,自行联系供应商。

台湾窗口为原厂列出的代理商,承接产品/服务范围需先确认;晶圆凸点、减薄与重植球服务可使用原厂表单选择 AIT、Die & Wafer 或 Component Modification 类别。美国所列联系人负责北美、中美与南美业务。 官方来源 ↗

更多地区联系方式 (1)

联系信息根据原厂公开资料整理;具体产品的负责人和服务范围,请向供应商确认。

资料由 BLNKK 根据公开来源整理。公司资料不代表已有对应方案;方案适用性仍需结合实际样品和工程条件确认。