二次组装 underfill/sidefill 加固材料
评估板上器件和焊点周围的树脂加固,比较 BGA 热循环疲劳的材料与几何条件。
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查看联系信息 ↓应用范围: 板级 BGA/QFN 加固 · 高频中空/微结构封装 · 退膜/种子界面清洗对照 · RDL 铜种子层去除对照
评估板上器件和焊点周围的树脂加固,比较 BGA 热循环疲劳的材料与几何条件。
中空或微结构封装需要保留设计空腔,同时确认材料覆盖及界面完整性。
铜电镀后的界面评估,需要先区分光刻胶残留与实际电性缺陷。
RDL 线间短路评估,需要区分未去除的铜种子层与较厚的电镀桥接。
以下候选方案已收录于工程问题流程,可继续查看条件、来源和比较内容。
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环氧电子材料可使用所列新客户表单,回复可能由长濑集团相关公司提供;蚀刻液与去胶液请从官方产品咨询页选择“Wet Chemicals”。 官方来源 ↗
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