NA-1500 面板残留物等离子去除
面板封装开口后的有机残留与表面状态,需要与后续金属接触质量一起评估。
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应用范围: 面板 FO-PLP 表面/开口 · PCB 中介层金属种子层 · 封装外部 EMI 屏蔽
面板封装开口后的有机残留与表面状态,需要与后续金属接触质量一起评估。
电镀前的金属种子层覆盖与连续性,需要与后续填铜结果对照。
用于比较封装外部金属屏蔽膜的制备方法,处理封装内电路对射频器件的电磁干扰问题。实际干扰路径仍需先定位。
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