Xslicer SMX 微焦點 CT 檢查系統

Shimadzu 島津 · 量測與檢查

研究候選・適用條件待確認

原廠公開頁面；樣品適用性尚未確認。

研究查核日期: 2026-10-15

方案用途: 候選工程用途：【Flip-chip 回焊接點橋接】比較貼裝／回焊條件與橋接位置。【空洞三維分布與熱風險判定】量化既有焊料／導電膠空洞的三維位置與形狀。
技術方式: 來源尚未提供完整機制或製程細節，請向供應商確認。
適用範圍: 候選工程用途：【Flip-chip 回焊接點橋接】比較貼裝／回焊條件與橋接位置。【空洞三維分布與熱風險判定】量化既有焊料／導電膠空洞的三維位置與形狀。
限制與待確認事項: 【Flip-chip 回焊接點橋接】需確認焊料體積、凸塊間距與電性；不能直接套用 BGA 板級影像結論。【空洞三維分布與熱風險判定】CT 須與配對熱測試結合；解析度受樣品限制，不能直接給通用允收百分比。需由供應商確認樣品、規格及承作條件；未驗證改善效果。 CT 應用須確認解析度、材料對比與晶粒接合層可見度。
公開依據: 官方來源列出「Xslicer SMX 微焦點 CT 檢查系統」。

補充參考資料

查看公司聯絡資訊，透過官方管道詢問此方案。

Flip-chip 回焊接點橋接

比較貼裝／回焊條件與橋接位置。

需確認焊料體積、凸塊間距與電性；不能直接套用 BGA 板級影像結論。

相同空洞比例，熱風險為什麼不同？

量化既有焊料／導電膠空洞的三維位置與形狀。

CT 須與配對熱測試結合；解析度受樣品限制，不能直接給通用允收百分比。

資料由 BLNKK 依公開來源整理。公司資料不代表已有對應方案；方案適用性仍需依實際樣品與工程條件確認。