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相同空洞比例,熱風險為什麼不同?

預期交付:解析度與假影可追溯的三維空洞/位置資料

補充條件,調整下一步(選填)

不用先回答完整表格;每補充一項,即更新目前任務的準備提示。條件選項暫存於本瀏覽器分頁,方便比較與下載。

先準備:是否已備妥:同座標的 2D/3D 影像及分割不確定度?

下一項待補:是否已備妥:同座標的 2D/3D 影像及分割不確定度?

此提示協助準備評估;方案與樣品適用性仍需個別確認。

這項任務的候選方案

2 項 · 最多比較三項
RX Solutions

三維 CT 與分層定位

官方描述電子與半導體三維 CT,包括焊料空洞與內部結構檢查。

所需資料、限制與來源

所需資料
同座標的 2D/3D 影像及分割不確定度;接合層厚度、熱源分布與材料熱參數;相同功率、冷卻邊界及良品對照的熱測試

主要限制
確認接合層對比、解析度、服務可用性及分割誤差。;檢出及三維重建不等於已建立熱風險門檻;樣品尺寸、金屬假影及有效解析度仍需驗證。

RX Solutions · 查看來源 ↗
官方技術摘要已核對 · 檢出及三維重建不等於已建立熱風險門檻;樣品尺寸、金屬假影及有效解析度仍需驗證。

Lumafield

電子 CT/孔隙量化路線

官方描述三維電子組件檢查與焊點孔隙量化。

所需資料、限制與來源

所需資料
同座標的 2D/3D 影像及分割不確定度;接合層厚度、熱源分布與材料熱參數;相同功率、冷卻邊界及良品對照的熱測試

主要限制
電子/BGA 能力不可直接視為可解析微凸塊或任意 die attach。;電子/BGA 檢查不能直接外推至微凸塊或混合鍵合;不宣稱空洞對本封裝熱阻的影響已驗證。

Lumafield · 查看來源 ↗
官方技術摘要已核對 · 電子/BGA 檢查不能直接外推至微凸塊或混合鍵合;不宣稱空洞對本封裝熱阻的影響已驗證。

這項任務需要什麼專長?

CT 量測與影像分析專家

可討論的交付:解析度與假影可追溯的三維空洞/位置資料

目前尚無公開符合此任務的獨立專家資料。可先準備委託範圍,或向候選供應商詢問負責此任務的技術專家。

準備專家詢問 →
確認問題範圍與相近問題

空洞面積率是否足以作本產品的判定依據,還是需加入三維分布與配對熱測試?

適用:既有空洞的三維量化與配對熱風險研究;判定量與檢查方法的適用性

其他情境:直接從 CT 給通用允收百分比;把銀燒結微孔與巨觀空洞混為同一分類;宣稱未檢出就完全無空洞

下載目前任務與評估準備
企業使用效益工具(選填)

供企業自行比較準備工時;不影響方案搜尋或工程任務。數值只留在此頁。

其他供應商候選 · 6

依公開研究整理的候選用途;尚未納入本題條件式判斷,請確認樣品、規格與承作條件。