三維 CT 與分層定位
官方描述電子與半導體三維 CT,包括焊料空洞與內部結構檢查。
所需資料、限制與來源
所需資料
同座標的 2D/3D 影像及分割不確定度;接合層厚度、熱源分布與材料熱參數;相同功率、冷卻邊界及良品對照的熱測試
主要限制
確認接合層對比、解析度、服務可用性及分割誤差。;檢出及三維重建不等於已建立熱風險門檻;樣品尺寸、金屬假影及有效解析度仍需驗證。
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官方技術摘要已核對 · 檢出及三維重建不等於已建立熱風險門檻;樣品尺寸、金屬假影及有效解析度仍需驗證。
