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Unicomp|日聯科技

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研究候選・適用條件待確認

公司尚未認領;資料由公開研究整理,不代表供應商背書或效果驗證。

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量測與檢查

LX9200 三維 X 光封裝檢查設備

候選工程用途:【BGA 球與焊膏未融合開路】檢查焊球與焊膏未融合的界面特徵。 【晶粒接合層初始空洞與覆蓋】比較焊料/導電膠接合層的初始覆蓋與空洞。 【空洞三維分布與熱風險判定】量化既有焊料/導電膠空洞的三維位置與形狀。

研究候選・適用條件待確認

原廠公開頁面;樣品適用性尚未確認。

研究查核日期: 2026-10-15

候選用途與工程問題

BGA 球與焊膏未融合開路

檢查焊球與焊膏未融合的界面特徵。

需驗證成像角度與解析度;一般空洞影像不能直接證明 head-in-pillow。

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晶粒接合層初始空洞與覆蓋

比較焊料/導電膠接合層的初始覆蓋與空洞。

只限晶粒下方接合層;銀燒結微孔與上方銅夾另列問題。

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相同空洞比例,熱風險為什麼不同?

量化既有焊料/導電膠空洞的三維位置與形狀。

CT 須與配對熱測試結合;解析度受樣品限制,不能直接給通用允收百分比。

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工程問題關聯由 BLNKK 依公開資料整理;不代表已確認樣品適用性或處理成效。

其他工程評估資源

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