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Wintech Nano (Suzhou)|勝科納米(蘇州)

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研究候選・適用條件待確認

公司尚未認領;資料由公開研究整理,不代表供應商背書或效果驗證。

官方方案影片

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目錄中的方案 · 3

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量測與檢查

焊點顯微分析與力學測試

候選工程用途:【焊點 IMC 介面脆性破裂】以剪切、截面與破面分析區分失效位置。

研究候選・適用條件待確認

原廠公開頁面;樣品適用性尚未確認。

研究查核日期: 2026-10-15

候選用途與工程問題

焊點 IMC 介面脆性破裂

以剪切、截面與破面分析區分失效位置。

需保留載入方式與斷裂位置;強度數值不能單獨辨識 IMC 脆裂。

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量測與檢查

散熱器組裝應變量測

候選工程用途:【散熱組件預載造成的封裝受載變形】比較散熱組件預載與封裝受載變形。

研究候選・適用條件待確認

原廠公開頁面;樣品適用性尚未確認。

研究查核日期: 2026-10-15

候選用途與工程問題

裝上散熱器後,封裝是否被壓變形?

比較散熱組件預載與封裝受載變形。

需力、扭矩、接觸與應變資料;單純降低溫度不能證明結構變形已改善。

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量測與檢查

DMA/TMA/DSC 封裝材料分析

候選工程用途:【大型 2.5D FCBGA 在冷卻階段發生翹曲反轉】比較材料、堆疊與熱歷程對冷卻曲率的影響。 【RDL 成膜/固化造成的晶圓曲率增量】評估成膜與固化材料對曲率增量的影響。

研究候選・適用條件待確認

原廠公開頁面;樣品適用性尚未確認。

研究查核日期: 2026-10-15

候選用途與工程問題

大型 2.5D FCBGA 翹曲反轉

比較材料、堆疊與熱歷程對冷卻曲率的影響。

需有升降溫曲線、固化收縮與黏彈性資料;室溫平坦度不能證明翹曲反轉已排除。

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RDL 製程後,哪一層讓晶圓更彎?

評估成膜與固化材料對曲率增量的影響。

需成膜前後曲率、膜厚及材料性質;壓痕模數不是殘留應力量測。

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工程問題關聯由 BLNKK 依公開資料整理;不代表已確認樣品適用性或處理成效。

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聯絡資訊

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資料由 BLNKK 依公開來源整理。公司資料不代表已有對應方案;方案適用性仍需依實際樣品與工程條件確認。