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Allring|萬潤科技股份有限公司

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研究候選・適用條件待確認

公司尚未認領;資料由公開研究整理,不代表供應商背書或效果驗證。

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目錄中的方案 · 3

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製程設備與窗口控制

600 × 600 mm 面板底部填膠設備

候選工程用途:【大型多晶粒底部填膠出現空洞與固化後分層】比較供膠、毛細流動、固化與介面檢查結果。 【底部填膠 fillet 與 keep-out 干涉】比較供膠量、路徑與膠邊形貌。

研究候選・適用條件待確認

原廠公開頁面;樣品適用性尚未確認。

研究查核日期: 2026-10-15

候選用途與工程問題

大型多晶粒底部填膠出現空洞與固化後分層

比較供膠、毛細流動、固化與介面檢查結果。

先辨識缺陷出現階段;材料或設備能力不等於已證明無空洞。

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底部填膠 fillet 與 keep-out 干涉

比較供膠量、路徑與膠邊形貌。

需實際間隙、潤濕性與固化後尺寸;低黏度或高精度點膠不能保證不溢膠。

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製程設備與窗口控制

CoWoS IC/FAU 六軸光耦合對準平台

候選工程用途:【CPO 光纖貼裝對準損耗】比較光纖貼裝對位與耦合損耗。

研究候選・適用條件待確認

原廠公開頁面;樣品適用性尚未確認。

研究查核日期: 2026-10-15

候選用途與工程問題

CPO 光纖貼裝對準損耗

比較光纖貼裝對位與耦合損耗。

需確認波長、偏振、模式與固化位移;光學儀器本身不等於具備貼裝能力。

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製程設備與窗口控制

熱介面材料精密塗布模組

候選工程用途:【多晶粒封裝散熱蓋接觸不均造成局部熱點】比較初始接觸、接合層厚度、壓力與熱介面材料形式。

研究候選・適用條件待確認

原廠公開頁面;樣品適用性尚未確認。

研究查核日期: 2026-10-15

候選用途與工程問題

多晶粒封裝散熱蓋接觸不均造成局部熱點

比較初始接觸、接合層厚度、壓力與熱介面材料形式。

需固定功率及冷卻邊界;材料導熱係數不能直接當成封裝熱阻。

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工程問題關聯由 BLNKK 依公開資料整理;不代表已確認樣品適用性或處理成效。

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