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AI Technology (AIT)

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研究候選・適用條件待確認

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目錄中的方案 · 3

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材料參數與介面設計

可壓縮相變熱介面墊片

候選工程用途:【多晶粒封裝散熱蓋接觸不均造成局部熱點】比較初始接觸、接合層厚度、壓力與熱介面材料形式。

研究候選・適用條件待確認

原廠公開頁面;樣品適用性尚未確認。

研究查核日期: 2026-10-15

候選用途與工程問題

多晶粒封裝散熱蓋接觸不均造成局部熱點

比較初始接觸、接合層厚度、壓力與熱介面材料形式。

需固定功率及冷卻邊界;材料導熱係數不能直接當成封裝熱阻。

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材料參數與介面設計

柔性導電接著膜與膠材

候選工程用途:【晶粒接合層初始空洞與覆蓋】比較焊料/導電膠接合層的初始覆蓋與空洞。

研究候選・適用條件待確認

原廠公開頁面;樣品適用性尚未確認。

研究查核日期: 2026-10-15

候選用途與工程問題

晶粒接合層初始空洞與覆蓋

比較焊料/導電膠接合層的初始覆蓋與空洞。

只限晶粒下方接合層;銀燒結微孔與上方銅夾另列問題。

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材料參數與介面設計

非矽熱介面膏

候選工程用途:【TIM 老化位移與 pump-out】比較老化前後材料分布與熱阻保持性。 【多晶粒封裝散熱蓋接觸不均造成局部熱點】比較初始接觸、接合層厚度、壓力與熱介面材料形式。

研究候選・適用條件待確認

原廠公開頁面;樣品適用性尚未確認。

研究查核日期: 2026-10-15

候選用途與工程問題

TIM 老化位移與 pump-out

比較老化前後材料分布與熱阻保持性。

需循環後覆蓋、接觸壓力與 BLT;非矽或相變材料不等於免於 pump-out。

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多晶粒封裝散熱蓋接觸不均造成局部熱點

比較初始接觸、接合層厚度、壓力與熱介面材料形式。

需固定功率及冷卻邊界;材料導熱係數不能直接當成封裝熱阻。

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工程問題關聯由 BLNKK 依公開資料整理;不代表已確認樣品適用性或處理成效。

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