NA-1500 面板殘留物電漿去除
面板封裝開口後的有機殘留與表面狀態,需要與後續金屬接觸品質一起評估。
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應用範圍: 面板 FO-PLP 表面/開口 · PCB 中介層金屬種子層 · 封裝外部 EMI 屏蔽
面板封裝開口後的有機殘留與表面狀態,需要與後續金屬接觸品質一起評估。
電鍍前的金屬種子層覆蓋與連續性,需要與後續填銅結果對照。
用於比較封裝外部金屬屏蔽膜的製作方式,處理封裝內電路對射頻元件的電磁干擾問題。實際干擾路徑仍需先定位。
以下候選方案已收錄於工程問題流程,可接續查看條件、來源與比較內容。
透過以下官方管道,自行聯絡供應商。
主要表單由台灣優貝克受理,可選「半導體產業」及「產品相關」。美國官方另有僅受理北美/南美詢問的表單;其他地區可由日本總部產品分類入口分派。公開電話為設備業務窗口,不是各專門子公司的共用電話。 官方來源 ↗
台灣 · 原廠據點
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中國大陸 · 原廠據點 · 業務洽詢
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美國 · 原廠據點
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