Integrity 3D-IC 多芯粒协同设计与翘曲分析
在 2.5D/3D 多芯粒系统的架构和物理设计阶段,综合检查互连、热点、机械应力及翘曲风险。让芯粒、中介层、封装与系统团队基于一致的设计数据比较修改方案。
SOLUTION NAVIGATOR查看供应商公开信息,以及目前已收录的技术方案。
查看联系信息 ↓应用范围: Chiplet/2.5D/3D 异质集成 · 2.5D/3D IC/封装与系统 · 封装/PCB/SiP 供电网络 · 3D IC/微凸点电源网络
在 2.5D/3D 多芯粒系统的架构和物理设计阶段,综合检查互连、热点、机械应力及翘曲风险。让芯粒、中介层、封装与系统团队基于一致的设计数据比较修改方案。
在芯粒、封装与系统设计阶段,同时评估温度、散热条件、热应力和翘曲,识别需要进一步验证的设计风险。
封装/板级供电网络需要比较阻抗、谐振和去耦配置,才能对照负载瞬态问题与网络特性。
3D-IC 微凸点供电路径需要比较电流、压降与温度条件,找出电源网络中的风险区域。
以下候选方案已收录于工程问题流程,可继续查看条件、来源和比较内容。
通过以下官方渠道,自行联系供应商。
台湾 · 原厂办事机构
官方来源 ↗查阅日期
美国 · 总部
官方来源 ↗查阅日期
台湾 · 原厂办事机构
官方来源 ↗查阅日期
联系信息根据原厂公开资料整理;具体产品的负责人和服务范围,请向供应商确认。
资料由 BLNKK 根据公开来源整理。公司资料不代表已有对应方案;方案适用性仍需结合实际样品和工程条件确认。