T-Core 大功率 IC 主动温控测试系统
大功率 IC 在通电测试中会自热，温度偏离设定条件可能改变电性结果；需要控制和记录热状态，才能判断功能或参数异常。
Cohu
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- 半导体测试分选设备、测试接口、检测与数据分析
应用范围: CPU／GPU／ASIC 加速器／网络处理器 · 可观测 IC 电源端口 · WLCSP 外部接点
目录中的方案 · 3
Diamondx 可配置电源与负载电性比较
供电瞬态异常需要可重复的器件激励条件，才能比较电气响应并追查压降来源。
3D Flex 焊球／凸点高度及共面性检查
WLCSP 外部焊球或凸点的高度分布与共面性，需要与封装本体形貌一起检查。
工程问题中的候选方案
以下候选方案已收录于工程问题流程，可继续查看条件、来源和比较内容。
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台湾 · 原厂办事机构
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