TSA 系列空气式热冲击与互连可靠性验证
通过快速高低温切换测试封装及互连,观察热失配相关的接合、界面或电气异常,比较材料和工艺条件。
SOLUTION NAVIGATOR查看供应商公开信息,以及目前已收录的技术方案。
查看联系信息 ↓应用范围: BGA/CSP/连接/功率封装 · 先进封装/车用电子/板级组件 · 吸湿封装/回流焊预处理 · 封装基板/电路板绝缘可靠性 · 回流焊后导体/焊点热循环
通过快速高低温切换测试封装及互连,观察热失配相关的接合、界面或电气异常,比较材料和工艺条件。
封装与板级组件反复升降温时,不同材料的热膨胀差异可能使焊点与界面逐渐累积疲劳;评估需要可追溯的试件温度记录。
回流焊后出现新的分层时,需要在相同回流焊条件下,比较不同吸湿与干燥历史对封装的影响。
湿热偏压下出现漏电时,需要跟踪绝缘电阻变化与事件时间,并对照环境条件。
回流焊后的导体或焊点在热循环中出现导通异常时,需要跟踪电阻变化及其发生条件。
以下候选方案已收录于工程问题流程,可继续查看条件、来源和比较内容。
通过以下官方渠道,自行联系供应商。
中国大陆 · 原厂办事机构 · 业务咨询
官方来源 ↗查阅日期
台湾 · 原厂列出的经销商 · 业务咨询
官方来源 ↗查阅日期
美国 · 总部 · 业务咨询
官方来源 ↗查阅日期
联系信息根据原厂公开资料整理;具体产品的负责人和服务范围,请向供应商确认。
资料由 BLNKK 根据公开来源整理。公司资料不代表已有对应方案;方案适用性仍需结合实际样品和工程条件确认。