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Koh Young Technology

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公开能力摘要

  • 3D 光学检测、焊接与组装工艺分析
测量、检测和失效定位工艺设备和窗口控制可靠性验证和失效分析

应用范围: 微焊料/助焊剂/凸点/高密度基板 · 芯片位置测量准备 · Underfill 外缘与 keepout

目录中的方案 · 3

工程问题中的候选方案

以下候选方案已收录于工程问题流程,可继续查看条件、来源和比较内容。

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