APAMA PLUS 芯片对基板/晶圆热压键合
热压键合需要控制键合流程和工艺漂移,才能评估芯片到基板或晶圆的互连;材料与试样条件需一并确认。
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查看联系信息 ↓应用范围: PoP/芯片到基板与芯片到晶圆键合 · 功率半导体/线键合 · 晶圆金 stud 凸点 · 分立功率铜 clip 封装 · 金/铜球线接合封装
热压键合需要控制键合流程和工艺漂移,才能评估芯片到基板或晶圆的互连;材料与试样条件需一并确认。
功率引线键合的焊点剥离与线根部疲劳,需要将键合设置、线材/线弧几何及初始质量放在同一组对照数据中。
比较金钉凸点的形成与形貌控制,评估高度分布及后续接合条件。
铜夹片接合的空洞或位移比较,需要同时控制焊料供给、放置及回流焊条件。
比较金/铜球焊接点和线弧条件,评估接合强度及脱离/疲劳风险。
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