DAGE 4600 自动化键合强度测试
量化线材、凸点、芯片和表面贴装接合的机械强度及失效模式,并通过自动化测试整理更一致、可追溯的批次数据。
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应用范围: 晶圆级互连/BGA/基板/先进封装 · 2.5D/3D IC/扇出型/功率封装 · BGA 焊点/焊盘/基材的局部高速比较 · 封装金属接点 · 可见封装/接点表面
量化线材、凸点、芯片和表面贴装接合的机械强度及失效模式,并通过自动化测试整理更一致、可追溯的批次数据。
通过声学图像检查封装内部的分层、裂纹、空洞和接合异常,帮助定位后续分析区域。
焊点脆性破坏及 pad/基材失效,需要在受控高速剪切条件下比较。
怀疑焊料桥接时,可通过 X 射线观察内部金属几何,帮助定位需要进一步验证的区域。
比较可见接点高度及封装共面度时,需要建立一致的参考面和可重复的光学测量。
以下候选方案已收录于工程问题流程,可继续查看条件、来源和比较内容。
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