PackageBond panel-level 銅—聚合物介面增黏製程
當分層位置已確認在銅與聚合物介面時,可比較介面黏著促進處理對模封、回焊及吸濕後可靠度的影響。
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查看聯絡資訊 ↓應用範圍: PLP/重組面板/RDL interface · 功率半導體/接晶 · 面板級銅柱形成對照 · 面板級導通孔填銅對照
當分層位置已確認在銅與聚合物介面時,可比較介面黏著促進處理對模封、回焊及吸濕後可靠度的影響。
功率接晶的銀燒結窗口,需要一起評估膏材、兩側金屬化與接合歷程,避免只比較材料名稱。
凸點高度不均,需要比較銅柱形成條件與實際高度分布。
填銅空洞比較,需要控制導通孔幾何、種子層及電鍍條件。
以下候選方案已收錄於工程問題流程,可接續查看條件、來源與比較內容。
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美國 · 原廠據點 · 技術支援
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新加坡 · 原廠據點 · 技術支援
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