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Micross Components

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公開能力摘要

  • 高可靠度微電子封裝、測試與資格驗證
可靠度驗證與失效分析量測、檢查與失效定位

應用範圍: 晶圓凸塊/重佈線 · 已確認範圍的晶圓試片 · 已確認相容的成品 BGA

目錄中的方案 · 3

工程問題中的候選方案

以下候選方案已收錄於工程問題流程,可接續查看條件、來源與比較內容。

公開來源

聯絡資訊

透過以下官方管道,自行聯絡供應商。

台灣窗口為原廠列出的代理商,承接產品/服務範圍需先確認;晶圓凸塊、薄化與重植球服務可使用原廠表單選擇 AIT、Die & Wafer 或 Component Modification 類別。美國列出的窗口負責北美、中美與南美業務。 官方來源 ↗

更多地區聯絡方式 (1)

窗口資料依原廠公開資訊整理;特定產品的負責窗口與服務範圍,請向供應商確認。

資料由 BLNKK 依公開來源整理。公司資料不代表已有對應方案;方案適用性仍需依實際樣品與工程條件確認。