MCL-E-770G Type R/RLH 低翹曲封裝載板材料
降低 FC-CSP、PoP 與 SiP 載板因熱膨脹係數不匹配和剛性不足所造成的封裝翹曲。
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查看聯絡資訊 ↓應用範圍: FC-CSP/PoP/SiP 載板 · Flip-chip/高密度封裝載板 · 薄晶圓切割與接晶 · FCBGA 底填點膠與膠邊評估 · 有機載板封裝模封/界面評估
降低 FC-CSP、PoP 與 SiP 載板因熱膨脹係數不匹配和剛性不足所造成的封裝翹曲。
封裝載板的防焊層也可能對固化收縮、熱膨脹與翹曲產生貢獻,需連同堆疊、銅分布及加工條件評估。
薄晶圓切割與取晶需要兼顧搬運穩定性,並比較固晶薄膜的貼合與接合狀態。
FCBGA 底填膠邊評估需要比較材料與點膠條件,檢查填充與禁入區是否兼顧。
受潮後回焊分層的材料比較,需要同時檢查模封樹脂與實際界面。
以下候選方案已收錄於工程問題流程,可接續查看條件、來源與比較內容。
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台灣窗口公開業務為半導體 CMP 研磨材料與印刷電路板感光乾膜。其他封裝材料可使用亞太一般詢問表單,提供產品名稱以確認承辦窗口。 官方來源 ↗
台灣 · 原廠據點
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新加坡 · 原廠據點
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