SU-3400 单片晶圆清洗系统
晶圆颗粒和清洗一致性问题,需要比较污染去除方法及其对暴露材料、表面和后续工艺的影响。
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查看联系信息 ↓应用范围: 300 mm 晶圆清洗 · Fan-out 晶圆/面板 RDL · 300 mm 晶圆背面 · 非平整晶圆涂膜试片
晶圆颗粒和清洗一致性问题,需要比较污染去除方法及其对暴露材料、表面和后续工艺的影响。
Fan-out 芯片位移后,需要评估 RDL 曝光图形能否适配实际芯片位置及基板变形。
评估背面颗粒清洗和控制刻蚀,作为改善晶圆形貌的工艺选项。
非平面晶圆的台阶与通孔,可能使涂膜覆盖不均,影响后续图形工艺的评估。
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